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L'intensité d'un faisceau d'électrons de basse énergie réfléchi à la surface d'un métal présente souvent d'étroites fluctuations en fonction de l'énergie incidente. Ces structures fines résultent de la rétrodiffusion d'électrons à la barrière de surface et l'analyse de ce phénomène rend possible l'étude de cette dernière. On a pu ainsi établir certaines caractéristiques de la barrière: déplacement de l'origine du potentiel image hors du substrat, saturation de celui-ci près du premier plan atomique. Des mesures de structures fines sur le W(001) sont présentées et comparées à des profils calculés au moyen de divers modèles de barrière. Un bon accord expérience-théorie …