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Colloque
L'ellipsométrie est une technique optique non destructive qui permet entre autres, de calculer les changements d'épaisseur et d'indices de réfraction d'une monocouche. Dans cette perspective, nous avons construit et mis au point un ellipsomètre. Une lumière polarisée elliptiquement est réfléchie sur un échantillon. L'état de polarisation de la lumière réfléchie est analysé par un prisme suivi d'un photomultiplicateur. Les mesures permettent de calculer le retard relatif de phase ainsi que le rapport relatif d'amplitude des composantes parallèles et perpendiculaires au plan d'incidence. Ces deux paramètres sont interprétés en termes des propriétés de la monocouche.
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L'ellipsométrie est une technique optique non destructive qui permet entre autres, de calculer les changements d'épaisseur et d'indices de réfraction d'une monocouche. Dans cette perspective, nous avons construit et mis au point un ellipsomètre. Une lumière polarisée elliptiquement est réfléchie sur un échantillon. L'état de polarisation de la lumière réfléchie est analysé par un prisme suivi d'un photomultiplicateur. Les mesures permettent de calculer le retard relatif de phase ainsi que le rapport relatif d'amplitude des composantes parallèles et perpendiculaires au plan d'incidence. Ces deux paramètres sont interprétés en termes des propriétés de la monocouche.
Colloque
L'ellipsométrie à longueurs d'onde multiples a été proposée par Ayoub et Bashara comme une méthode capable de caractériser un film mince, uniaxial, déposé sur un substrat non absorbant. Selon ces auteurs, si l'on mesure la différence de phase δ = A−Δ on obtient une solution unique pour les indices de réfraction du film (nμ et n∥) et l'épaisseur de celui-ci (d). Cette solution existe si par le biais de varier n3, on n'affecte pas les valeurs de nμ, n∥ et d. Leur argument est qu'en mesurant δ pour trois valeurs différente de n3, ils égèrent trois équations simultanées pour les …
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L'ellipsométrie à longueurs d'onde multiples a été proposée par Ayoub et Bashara comme une méthode capable de caractériser un film mince, uniaxial, déposé sur un substrat non absorbant. Selon ces auteurs, si l'on mesure la différence de phase δ = A−Δ on obtient une solution unique pour les indices de réfraction du film (nμ et n∥) et l'épaisseur de celui-ci (d). Cette solution existe si par le biais de varier n3, on n'affecte pas les valeurs de nμ, n∥ et d. Leur argument est qu'en mesurant δ pour trois valeurs différente de n3, ils égèrent trois équations simultanées pour les …
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La spectroscopie photoacoustique est une nouvelle technique qui nous donne des informations sur l'énergie absorbée par un échantillon et dissipée par désexcitation thermique. Elle est donc complémentaire à la fluorométrie et à la spectroscopie d'absorption conventionnelle. Comme cette méthode n'est pas affectée par la lumière diffuse, elle permet des études d'absorption sur des substances difficiles à examiner par transmission ou par réflexion: substances opaques ou substances diffusant beaucoup de lumière, etc. Nous avons mis au point dans notre laboratoire un spectromètre photoacoustique ayant une sensibilité suffisante pour pouvoir l'appliquer à l'étude des monocouches de molécules organiques. Des expériences sur des …
