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L’intégration de la microélectronique et ses applications
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Les microsystèmes sont à la base d’une multitude de dispositifs et d’applications technologiques. Au cœur de ces microsystèmes on retrouve des structures hétérogènes qui reposent sur les toutes dernières innovations dans le domaine de la microélectronique. L’École de technologie supérieure (ÉTS) et son laboratoire de communication et d’intégration de la microélectronique (LACIME) regroupent un ensemble de projets de recherche à l’intersection du domaine des communications et de la microélectronique. Au cours de cette présentation, les travaux des chercheurs de l’ÉTS qui sont membres du ReSMiQ seront exposés. Les principaux axes de recherche seront couverts tel que la modélisation et la …

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Dorsale de communication CORBA pour la conception et la vérification
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Cette affiche présente une stratégie novatrice de communication basé sur des objets pour interconnecter des outils de conception et des composantes systèmes opérant à des niveaux d'abstraction différent afin de produire un système cohérent et compatible. Les modules d'interconnexion sont générés automatiquement à partir de modèles d'interface. Cet environnement s'utilise pour le prototypage, la validation, la simulation et/ou le test des interactions de systèmes complexes avant que ne soit terminé l'intégration et la conception de l'ensemble des composantes. Notre implémentation initiale supporte MathWorks MATLAB/Simulink, Mentor Graphics ModelSim, le simulateur de l'Open SystemC Initiative ainsi que GHDL. Pour une simulation impliquant …

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Utilisation des tests structurels dans la vérification fonctionelle
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La vérification fonctionnelle s’avère une phase critique dans le flux de conception. A ce niveau, les technologies actuelles sont incapables de relever les défis posés par la complexité des "design". Alors que, au niveau du test structurel, les techniques sont améliorées et entièrement automatisées permettant de tester des circuits complexes en quelques secondes et de couvrir la majorité des noeuds sans effort. Dans cette affiche, nous établissons les relations existantes entre les "Dark corners" (nœuds difficiles a vérifier) niveau RTL, et les "hard faults" (nœuds difficiles a tester) niveau portes logiques. Nous explorons de même la réutilisation des vecteurs de …

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