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Colloque
Dans le cadre de cet exposé, la méthode de Monte-Carlo permettant de simuler la trajectoire des électrons pour quantifier les analyses chimiques par émission de rayons X en microscopie électronique sera décrite en détail. Plus précisément, une nouvelle procédure pour quantifier chimiquement des inclusions sphériques par émission de rayons X au M.E.B. sera présentée. De plus, l'effet des électrons secondaires sur les facteurs Kα de "Cliff-Lorimer" au M.E.T. ainsi que sur la résolution spatiale sera expliqué. Finalement, des calculs de la fonction de génération des rayons X au M.E.T. seront présentés ainsi qu'une nouvelle correction d'absorption.
