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Utilisation de nouvelles sources lumineuses pour la tomographie en optique cohérente
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La tomographie en optique cohérente (TOC) est une technique d'imagerie née il y a une dizaine d’années. Cette nouvelle méthode non destructive basée sur l'utilisation de sources optiques à faible cohérence temporelle permet d'obtenir des profils haute résolution de microstructures enfouies dans des tissus biologiques ou des matériaux. La plupart des travaux les plus récents dans ce domaine portent sur l'amélioration de deux paramètres importants pour la TOC : la résolution axiale (ou en profondeur) des images d'une part, et le rapport signal sur bruit d’autre part. L'amélioration de ces deux paramètres est indispensable pour l'étude de structures micrométriques et …

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La tomographie en optique cohérente (TOC) est une technique d'imagerie née il y a une dizaine d’années. Cette nouvelle méthode non destructive basée sur l'utilisation de sources optiques à faible cohérence temporelle permet d'obtenir des profils haute résolution de microstructures enfouies dans des tissus biologiques ou des matériaux. La plupart des travaux les plus récents dans ce domaine portent sur l'amélioration de deux paramètres importants pour la TOC : la résolution axiale (ou en profondeur) des images d'une part, et le rapport signal sur bruit d’autre part. L'amélioration de ces deux paramètres est indispensable pour l'étude de structures micrométriques et …

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La tomographie en optique cohérente (TOC) est une technique d'imagerie née il y a une dizaine d’années. Cette nouvelle méthode non destructive basée sur l'utilisation de sources optiques à faible cohérence temporelle permet d'obtenir des profils haute résolution de microstructures enfouies dans des tissus biologiques ou des matériaux. La plupart des travaux les plus récents dans ce domaine portent sur l'amélioration de deux paramètres importants pour la TOC : la résolution axiale (ou en profondeur) des images d'une part, et le rapport signal sur bruit d’autre part. L'amélioration de ces deux paramètres est indispensable pour l'étude de structures micrométriques et …

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