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Colloque
La microscopie optique à effet champs rapproché (SNOM) est une nouvelle méthode de microscopie optique qui peut atteindre une résolution de 15 à 50 nm. Ceci est une amélioration d'un ordre de grandeur par rapport aux microscopes conventionnels. La plupart des particularités intéressantes de la microscopie conventionnelle se trouvent dans le champs rapproché. En particulier, la SNOM est non perturbative et la majorité des méthodes de contraste optique fonctionnent toujours aux champs rapprochés. La superbe résolution est atteinte en passant un faisceau laser à travers une fibre optique effilée. Un faisceau concentré de photons sort de la fibre optique et …
Colloque
Nous avons construit un microscope à effet force (MEF) d'utilité générale. La MEF se base sur les interactions entre une petite pointe et un échantillon. Les minimes déviations du cantilever, sur lequel la pointe est attachée, donnent une mesure de la force d'interaction. De plus, le gradient de la force peut être mesuré à partir de la variation de la fréquence de résonance de cantilever. Notre instrument détecte les déviations du cantilever avec une sensibilité de 10⁻⁵ nm/√Hz en utilisant une technique d'interférométrie optique par fibre optique. Des variations de moins de 1 Hz sont détectables à des fréquences du …
Colloque
Nous avons construit un microscope à effet force (MEF) d'utilité générale. La MEF se base sur les interactions entre une petite pointe et un échantillon. Les minimes déviations du cantilever, sur lequel la pointe est attachée, donnent une mesure de la force d'interaction. De plus, le gradient de la force peut être mesuré à partir de la variation de la fréquence de résonance de cantilever. Notre instrument détecte les déviations du cantilever avec une sensibilité de 10⁻⁵ nm/√Hz en utilisant une technique d'interférométrie optique par fibre optique. Des variations de moins de 1 Hz sont détectables à des fréquences du …
