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Colloque
Nous avons construit un microscope à effet force (MEF) d'utilité générale. La MEF se base sur les interactions entre une petite pointe et un échantillon. Les minimes déviations du cantilever, sur lequel la pointe est attachée, donnent une mesure de la force d'interaction. De plus, le gradient de la force peut être mesuré à partir de la variation de la fréquence de résonance de cantilever. Notre instrument détecte les déviations du cantilever avec une sensibilité de 10⁻⁵ nm/√Hz en utilisant une technique d'interférométrie optique par fibre optique. Des variations de moins de 1 Hz sont détectables à des fréquences du …
