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Colloque
La technique de photographie aux rayons-x des poudres d'alliage a été employée pour déterminer la constante réticulaire et les diagrammes d'équilibre T−x des systèmes d'alliage: Pb1−xSnxTe et Pb1−xSnxSe. Ces données sont nécessaires pour la préparation des alliages en vue des mesures des paramètres des semiconducteurs. Les spécimens ont été préparés par la méthode horizontale de Bridgman et ont été utilisés pour l'analyse des spectres de réflectance dans les régions du visible et de l'ultraviolet.
