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Colloque
Afin de conduire des expériences pour mesurer des forces dans un système composé d'une pointe et d'un échantillon qui sont caractérisés à l'échelle atomique, nous avons construit un instrument qui combine un microscope à effet tunnel, un microscope à force atomique et un microscope à champ ionique. Ce dernier sert à préparer et à caractériser la pointe avec une précision atomique. L'instrument est placé sous ultra-vide; il est possible de changer le mode d'opération du microscope à effet tunnel et à force atomique au microscope à champ ionique (et vice versa) sans transférer la pointe. Afin de limiter la diffusion …
