Veuillez choisir le dossier dans lequel vous souhaitez ajouter ce contenu :
Filtrer les résultats
Colloque
Nous avons récemment mis en oeuvre une nouvelle méthode d'analyse des données d'absorption X permettant le calcul d'angles et de distances interatomiques dans les milieux amorphes. Il s'agit de tenir compte des termes de diffusion multiple intervenant dans le signal de structure fine (EXAFS) se formant de 40 à 1000 eV au-dessus du seuil d'absorption d'un atome particulier. Nous avons testé cette méthode au seuil K du silicium et du titane dans un gel de silice SiO2 et un verre de titane, TiO2-SiO2, tous deux amorphes. Les mesures ont été prises à Tsukuba sur le synchrotron japonais. Le signal théorique …
