Résultats de recherche

filters logos

Filtrer les résultats

arrow down
Années
exclamation icon
Type de contenu
Exporter les résultats Sauvegarder les résultats
3 résultats de recherche
pen icon Colloque
Mesure du profil d'implantation dans le silicium par la technique d'onde acoustique de surface
quote

La mesure des propriétés électriques de semiconducteurs à l'aide d'une onde acoustique de surface est relativement récente. Le principal avantage de cette technique réside dans le fait qu'elle est non destructive. L'onde acoustique, qui est générée par un transducteur déposé sur un matériau piézo-électrique (LiNbO3) est accompagnée d'un champ électrique oscillant. L'interaction de ce champ électrique avec les porteurs près de la surface du semiconducteur donne lieu à un voltage transverse acoustoelectrique (VTA) qui constitue une signature de la qualité de surface du semiconducteur tout en donnant le signe des porteurs majoritaires. Dans le but d'étudier la concentration des porteurs …

quote
pen icon Colloque
Mesure du profil d'implantation dans le silicium par la technique d'onde acoustique de surface
quote

La mesure des propriétés électriques de semiconducteurs à l'aide d'une onde acoustique de surface est relativement récente. Le principal avantage de cette technique réside dans le fait qu'elle est non destructive. L'onde acoustique, qui est générée par un transducteur déposé sur un matériau piézo-électrique (LiNbO3) est accompagnée d'un champ électrique oscillant. L'interaction de ce champ électrique avec les porteurs près de la surface du semiconducteur donne lieu à un voltage transverse acoustoelectrique (VTA) qui constitue une signature de la qualité de surface du semiconducteur tout en donnant le signe des porteurs majoritaires. Dans le but d'étudier la concentration des porteurs …

quote
pen icon Colloque
Mesure du profil d'implantation dans le silicium par la technique d'onde acoustique de surface
quote

La mesure des propriétés électriques de semiconducteurs à l'aide d'une onde acoustique de surface est relativement récente. Le principal avantage de cette technique réside dans le fait qu'elle est non destructive. L'onde acoustique, qui est générée par un transducteur déposé sur un matériau piézo-électrique (LiNbO3) est accompagnée d'un champ électrique oscillant. L'interaction de ce champ électrique avec les porteurs près de la surface du semiconducteur donne lieu à un voltage transverse acoustoelectrique (VTA) qui constitue une signature de la qualité de surface du semiconducteur tout en donnant le signe des porteurs majoritaires. Dans le but d'étudier la concentration des porteurs …

quote