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Colloque
A l'aide de la méthode oscillographique à faibles fréquences, nous avons mesuré des capacités des cellules de type Al/Chl a/Ag. La capacité mesurée aux fréquences entre 0 et 100 Hz est indépendante de la tension appliquée. Ce résultat est expliqué par la présence dans la région de déplétion d'un grand nombre de charges piégées qui n'arrivent pas à suivre la variation de la tension appliquée. Aux fréquences de 0.1 et 1 Hz, la capacité devient dépendante de la tension appliquée. Nous mesurons ainsi la capacité de la barrière de Schottky présente à l'interface Al/Chl a. Toutefois, la courbe 1/C²-V n'est …
Colloque
A l'aide de la méthode oscillographique à faibles fréquences, nous avons mesuré des capacités des cellules de type Al/Chl a/Ag. La capacité mesurée aux fréquences entre 0 et 100 Hz est indépendante de la tension appliquée. Ce résultat est expliqué par la présence dans la région de déplétion d'un grand nombre de charges piégées qui n'arrivent pas à suivre la variation de la tension appliquée. Aux fréquences de 0.1 et 1 Hz, la capacité devient dépendante de la tension appliquée. Nous mesurons ainsi la capacité de la barrière de Schottky présente à l'interface Al/Chl a. Toutefois, la courbe 1/C²-V n'est …
